توسط فناوران داخلی در ششمین نمایشگاه تجهیزات و مواد آزمایشگاهی ساخت ایران صورت گرفت؛
اندازهگیری ضخامت و زبری لایههای نانومتری با پروفایلومتر تماسی
توسط محققان داخلی در نمایشگاه ساخت ایران، دستگاه پروفایلومتر بهمنظور ابزاری مؤثر و کاربردی برای دسترسی به اطلاعات از زبری سطح و ضخامت لایههای نانومتری و میکرومتری ارائه شد.
به گزارش مرکز ارتباطات و اطلاعرسانی معاونت علمی و فناوری ریاست جمهوری؛ درحالیکه دومین روز از ششمین نمایشگاه تجهیزات و مواد آزمایشگاهی ساخت ایران را همزمان با نوزدهمین نمایشگاه دستاوردهای پژوهش، فناوری و فن بازار کشور را می گذارانیم، شرکتی دیگر در غرفهای که به آن اختصاص دادهاند مشغول معرفی محصولات خود به مراجعهکنندگان بود، این شرکت دانشبنیان موفق به ساخت دستگاهی بهمنظور دسترسی به اطلاعات از زبری سطح و ضخامت لایههای نانومتری و میکرومتری شد ه است.
یاسر عبدی مدیرعامل شرکت دانشبنیان نانو پژوهان راگا با اشاره به استانداردهای جهانی در بررسی سطح صافی در جهان بیان کرد: بسیاری از استانداردهای سطح صافی در جهان بر اساس پروفایلومتر تماسی ارائهشده است، پروفایلومتر در گستره وسیعی از صنایع و علوم نظیر نیمههادی، میکروالکترونیک، انرژی خورشیدی، فیبر نوری، خودرو، هوافضا، متالوژی، ماشینکاری، لایه نشانی، داروئی، پزشکی، محیطزیست و بسیاری دیگر کاربرد دارد.
این فعال حوزه فناوری با اشاره به رزولوشن در راستای عمود بر نمونه 50 نانومتر بیان کرد: از مشخصات فنی این دستگاه میتوان به روبش سطحی 3 میلیمتری با دقت 10 نانومتر اشاره کرد.
عبدی بابیان اینکه این دستگاه قابلیت جابجایی دستی نمونه را دو بعد دارد گفت: این دستگاه با مشاهده نمونه هنگام انجام پروفایلومتری، قابلیت حذف شیب بهصورت نرمافزاری را دارد.
مدیرعامل شرکت نانو پژوهان راگا افزود: این دستگاه باقابلیت رسم نمودار همزمان با نمونهبرداری از سطح قادر به ذخیره اطلاعات در قالب فایلهای تصویری و متنی را نیز دارد.
بر اساس این گزارش، ششمین نمایشگاه تجهیزات و مواد آزمایشگاهی ساخت ایران همزمان با نوزدهمین نمایشگاه دستاوردهای پژوهش، فناوری و فن بازار کشور هماکنون در محل نمایشگاه بینالمللی در حال برگزاری است.
پایان پیام/32
Send to friends